Skip to main content

Repair techniques for aged TSVs in 3D integrated circuits

مؤلف البحث
Siroos Madani, Kasem Khalil, Bappaditya Dey, Devante Bonton, Magdy Bayoumi
المشارك في البحث
سنة البحث
2017
مجلة البحث
2017 IEEE International High Level Design Validation and Test Workshop (HLDVT)
الناشر
IEEE
عدد البحث
NULL
تصنيف البحث
3
صفحات البحث
53-58
موقع البحث
NULL
ملخص البحث

NULL