Determination of the optical constants of As–Se–Ag chalcogenide thick films with high precision for optoelectronics applications

كلية العلوم

جامعة أسيوط

Determination of the optical constants of As–Se–Ag chalcogenide thick films with high precision for optoelectronics applications

مؤلف البحث
ER Shaaban, Mohamed N Abd-el Salam, M Mohamed, MA Abdel-Rahim, AY Abdel-Latief
ملخص البحث

NULL

قسم البحث
قسم الفيزياء
مجلة البحث
Journal of Materials Science: Materials in Electronics
المشارك في البحث
Atta Yousef Abdullahtif Mohamed
الناشر
Springer US
تصنيف البحث
1
عدد البحث
28(18)
موقع البحث
NULL
سنة البحث
2017
صفحات البحث
13379-13390