A Partitioning Technique for Reducing the Computational Complexity of the Test generation and Probabilistic Detection of Faults in Combinational Circuits

كلية الهندسة

جامعة اسيوط

A Partitioning Technique for Reducing the Computational Complexity of the Test generation and Probabilistic Detection of Faults in Combinational Circuits

مؤلف البحث
S. A. Ali
المشارك في البحث
Samia Abd El-Fattah Ali Hassan
قسم البحث
الهندسة الكهربائية
سنة البحث
1992
مجلة البحث
International Journal of Electronics
عدد البحث
Vol. 73, No. 6
تصنيف البحث
1
صفحات البحث
pp. 1301-1319