The structureoftheas-preparedandthermalannealedAg10As30S60 chalcogenide glassischaracterized
using theX-raydiffraction(XRD)andscanningelectronmicroscopy(SEM).Differentialscanning
calorimetry (DSC)curvesrecordedatfourdifferentheatingratesareanalyzedtodeterminetheglass
and crystallizationtransitiontemperatures,thermalstabilityandenthalpyrelease.Twoseparated
crystallization peaksareobservedintheDSCcurves.XRDresultsindicatetheprecipitationofAgAsS4
crystal phaseisresponsibleforthe first peak.NumerousphaseswithS8 dominant phaseareaccountable
for thesecondpeak.Thecrystallizationkineticssuchastheactivationenergyforthecrystallization(Ec),
the frequencyfactor(Ko) andthecrystallizationrateconstant K are determinedforeachcrystallization
stage. Theresultsshowthatthecrystallizationrateconstantforthe first crystallizationstageisaboutsix
times largerthanthatofthesecondcrystallizationstep.
ملخص البحث
قسم البحث
مجلة البحث
Physica B
المشارك في البحث
الناشر
Elsevier
تصنيف البحث
1
عدد البحث
Vol. 449
موقع البحث
journalhomepage: www.elsevier.com/locate/physb
سنة البحث
2014
صفحات البحث
155-159